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<p style="color:#333333;font-weight:normal;font-size:16px;line-height:30px;font-family:Helvetica,Arial,sans-serif;hyphens:auto;text-align:justify;" data-flag="normal"><span>半导体测试怕 “虚假缺陷”！误判会让合格芯片报废、良率难爬坡，还引发供应链追责（设计方与测试方互责）；目前靠 AI 降误报、计量学排查探针 / 接口问题，但高可靠性领域仍需应对 “AI 幻觉” 风险</span><br></p>